Grundlagen der Oberflächentopographie

Heutzutage ermöglicht eine umfassende Auswahl von Kennwerten die funktionsgerechte Charakterisierung der Beschaffenheit von Oberflächen. In diesem Seminar werden die wichtigsten Kennwerte und Kennkurven zur Charakterisierung der Eigenschaften von Oberflächen erläutert. Leider wird oftmals versucht, die komplexe Mikrostruktur einer Oberfläche mit einem einzigen Kennwert zu beschreiben. Dies ist nicht möglich und hier schaffen die Normen durch passgenaue Kennwerte für bestimmte Merkmale Abhilfe.

Die ISO-konformen Messbedingungen sind Voraussetzung, um vergleichbare Ergebnisse zu erzielen. Hierzu gehört die Wahl des richtigen Filters, der Grenzwellenlänge und der Messstrecke. Aber auch die Angabe der Messstrategie gehört zur eindeutigen Prüfung von Oberflächen dazu. Häufig stehen die Angaben der Oberflächenbeschaffenheit am Oberflächenzeichen nicht im Einklang mit der internationalen ISO-Normung.

Ziel des Seminars ist es, einen Überblick über alle Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächen zu geben. Damit werden die Teilnehmer:innen in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte auszuwählen und diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben.

Anmerkung: 
Das Seminar erläutert die Neuerungen der neuen Norm ISO 21920 mit ihren drei Teilen.

HINWEIS

Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs "Tribologie Experte (TAE)" www.tae.de/60160 sowie des Zertifikatslehrgangs "Oberflächen Spezialist (TAE)" www.tae.de/60163 und kann auch einzeln gebucht werden.

Ziel des Seminars ist es, einen Überblick über alle Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächen zu geben. Damit werden die Teilnehmer:innen in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte auszuwählen und diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben.

Anmerkung: 
Das Seminar erläutert die Neuerungen der neuen Norm ISO 21920 mit ihren drei Teilen.